Adam Czyżewski
Artykuły:
Wielokanałowy optyczny system do kontroli jakości druku cyfrowego
Afiliacja: Maksymilian Pluta Institute of Applied Optics (INOS), Warsaw, Poland
Autorzy: Galas Jacek, Litwin Dariusz, Czyżewski Adam, Sitarek Stefan, Kołacz Katarzyna